Теплопроводность в сплошных средах и двухфазных, продуваемых и непродуваемых телах (слоях) Теплопроводность в сплошных средах и двухфазных, продуваемых и непродуваемых телах (слоях)Страница 7
Его решение можно представить так: mº-d(lnt)/dx=CPG/ll
Величину ll определяют по графику температуры в слое, построенном в полулогарифмических координатах. Модификация описанного метода-создание спутных потоков теплоты и газа при использовании торцевого холодильника вместо нагревателя. Самая актуальная информация онлайн касса дешево здесь.
Эксперимент можно осуществить только в области малых значений Reэ: при больших скоростях газа необходим источник теплоты высокой интенсивности, что может исказить одномерный поток ее. Кроме того, при больших скоростях газа зона теплового влияния источника соизмерима с размером зерна, и принятая квазигомогенная модель слоя нарушается.
где Q - общее количество теплоты, передаваемое через слой; L - высота слоя; t1 и t2 - температуры слоя на расстояниях от оси r1 r2.
III. Совместное определение радиального и продольного коэффициентов теплопроводности в зернистом слое. Определение lr и ll проводят по результатам измерения температур в трубе с зернистым слоем, охлаждаемой снаружи, при параллельном и встречном направлении потоков тепла и газа. В торце цилиндрического аппарата помещен электронагреватель, создающий равномерный тепловой поток. Стенки аппарата охлаждаются интесивным потоком воды. В зернистом слое создается двумерное температурное поле. Каждый опыт проводят при двух направлениях потока газа, имеющего одинаковую скорость.
ЖАКОЛИО (Jacolliot) Луи (1837-90) , французский писатель. Путевые очерки и приключенческие романы "Пожиратели огня" (1887), "В трущобах Индии" (1888) полны сочувствия к угнетенным народам. Этнографические труды, исследования, посвященные индийской религии и мифологии.
ФЕБА , спутник Сатурна, открыт У. Пикерингом (США, 1898). Расстояние от Сатурна 12,95 млн. км, диаметр ок. 220 км, сидерический период обращения 550,4 суток.
ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ , метод исследования строения веществ, основанный на дифракции электронов (см. Дифракция частиц). Методом электронографии определяют атомную структуру кристаллов и аморфных тел, молекул.